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X射线吸收谱
X射线吸收精细结构谱仪
TableXAFS-500A · 创谱仪器
该设备主要用于分析功能材料的核心原子的价态、能级结构、配位键类型与键长、配位原子种类及数量等。通常分为近边吸收（XANES）以及扩展边吸收（EXAFS）两个区域，前者主要表征元素种类和价态、轨道杂化情况等，后者主要表征核心元素原子与周边原…
技术摘要
| 能量范围 | 4.5 ~ 20keV |
|---|---|
| 能量分辨率 | 0.5 ~ 1.5eV (7~9keV) |
| 重复性 | <50meV |
| 光通量 | 2M光子数/S |
完整技术指标
- 01
能量范围：4.5 ~ 20keV 2、能量分辨率：0.5 ~ 1.5eV (7~9keV) 3、重复性：<50meV 4、光通量：2M光子数/S 5、冷却方式：水冷
主要功能
- 01该设备主要用于分析功能材料的核心原子的价态、能级结构、配位键类型与键长、配位原子种类及数量等。
- 02通常分为近边吸收（XANES）以及扩展边吸收（EXAFS）两个区域，前者主要表征元素种类和价态、轨道杂化情况等，后者主要表征核心元素原子与周边原子的配位关系，可测V,Cr,Mn,Fe Co Ni Cu Zn Pt Au